Отключаемые счетчики электроэнергии на пульте. Все с документами пломбами, гарантией и без посредников!

Тестер диодов и биполярных транзисторов

Тестер диодов и биполярных транзисторов

Большинство современных тестеров (мультиметров) имеют встроенные функции тестирования диодов и иногда транзисторов. Но если ваш тестер не имеет этих функций, то вы можете собрать тестер диодов и транзисторов своими руками. Ниже представлен проект тестера на микроконтроллере PIC16F688.

Логика тестирования диодов очень проста. Диод – это PN-переход, который как известно, проводит ток только в одном направлении. Следовательно, рабочий диод будет проводить ток в одном направлении. Если диод проводит ток в обеих направлениях, то значит диод нерабочий – пробитый. Если диод ни в одном из направлений не проводит, то диод также не рабочий. Схемная реализация данной логики показана ниже.

Данную логику легко можно адаптировать для теста биполярных транзисторов, который содержит два PN-перехода: один между базой и эмиттером (БЭ-переход) и второй между базой и коллектором (БК-переход). Если оба перехода проводят ток только в одном направлении, транзистор – рабочий, иначе – не рабочий. Также мы можем идентифицировать тип транзистора PNP или NPN, определив направление проводимости тока. Для тестирования транзисторов, в микроконтроллере используется 3 входа/выхода

Последовательность для тестирования транзистора:

1. Включить выход (установить в единицу) D2 и считать D1 и D3. Если на D1 логическая единица, переход БЭ проводит ток, иначе – нет. Если D3 в 1, то БК проводит ток, иначе – нет.

2. Установить выход D1 в 1 и считать D2. Если D2 в 1, значит ЭБ проводят ток, иначе – нет.

3. Установить выход D3 в 1 и считать D2. Если D2 в 1, значит КБ проводят ток, иначе – нет.

Далее, если БЭ и БК проводят ток, то транзистор NPN-типа и рабочий. Если же, ЭБ и КБ проводят ток, то транзистор PNP типа и также рабочий. Во всех остальных случаях (к примеру ЭБ и БЭ проводят ток или оба перехода БК и КБ не проводят и т.п.) транзистор находится в не рабочем состоянии.

Принципиальаня схема тестера диодов и транзисторов и описание

Схема тестера очень проста. В приборе предусмотрено 2 кнопки управления: Select (выбор) и Detail (подробнее). По нажатию кнопки Select происходит выбор типа теста: тест диода или транзистора. Кнопка Detail работает только при режиме теста транзистора, на экране LCD показывается типа транзистора (NPN или PNP) и статусы проводимости переходов транзистора.

Три ножки тестируемого транзистора (эмиттер, коллектор и база) подсоединяются к "земле" через резистор 1 кОм. Для тестирования используются выводы RA0, RA1, и RA2 микроконтроллера PIC16F688. Для тестирования диода используется только два вывода: Э и К (на схеме обозначены D1 и D2).

Программа

Программное обеспечения для данного проекта написано с использованием компилятора MikroC. Во время тестирования и программирования будьте внимательны и следите за установками входов/выходов МК (RA0, RA1 и RA2) т.к. они часто меняются во время работы. Перед тем, как установить какой-либо выход в 1, убедитесь, что два других входа/выхода МК определены как входа. В противном случае возможны конфликты входов/выходов МК.

/* Project: Diode and Transistor Tester Internal Oscillator @ 4MHz, MCLR Enabled, PWRT Enabled, WDT OFF Copyright @ Rajendra Bhatt November 9, 2010 */ // LCD module connections sbit LCD_RS at RC4_bit; sbit LCD_EN at RC5_bit; sbit LCD_D4 at RC0_bit; sbit LCD_D5 at RC1_bit; sbit LCD_D6 at RC2_bit; sbit LCD_D7 at RC3_bit; sbit LCD_RS_Direction at TRISC4_bit; sbit LCD_EN_Direction at TRISC5_bit; sbit LCD_D4_Direction at TRISC0_bit; sbit LCD_D5_Direction at TRISC1_bit; sbit LCD_D6_Direction at TRISC2_bit; sbit LCD_D7_Direction at TRISC3_bit; // End LCD module connections sbit TestPin1 at RA0_bit; sbit TestPin2 at RA1_bit; sbit TestPin3 at RA2_bit; sbit Detail at RA4_bit; sbit SelectButton at RA5_bit; // Define Messages char message1[] = “Diode Tester”; char message2[] = “BJT Tester”; char message3[] = “Result:”; char message4[] = “Short”; char message5[] = “Open “; char message6[] = “Good “; char message7[] = “BJT is”; char *type = “xxx”; char *BE_Info = “xxxxx”; char *BC_Info = “xxxxx”; unsigned int select, test1, test2, update_select, detail_select; unsigned int BE_Junc, BC_Junc, EB_Junc, CB_Junc; void debounce_delay(void){ Delay_ms(200); } void main() { ANSEL = 0b00000000; //All I/O pins are configured as digital CMCON0 = 0?07 ; // Disbale comparators PORTC = 0; PORTA = 0; TRISC = 0b00000000; // PORTC All Outputs TRISA = 0b00111000; // PORTA All Outputs, Except RA3 (I/P only) Lcd_Init(); // Initialize LCD Lcd_Cmd(_LCD_CLEAR); // CLEAR display Lcd_Cmd(_LCD_CURSOR_OFF); // Cursor off Lcd_Out(1,2,message1); // Write message1 in 1st row select = 0; test1 = 0; test2 = 0; update_select = 1; detail_select = 0; do { if(!SelectButton){ debounce_delay(); update_select = 1; switch (select) { case 0 : select=1; break; case 1 : select=0; break; } //case end } if(select == 0){ // Diode Tester if(update_select){ Lcd_Cmd(_LCD_CLEAR); Lcd_Out(1,2,message1); Lcd_Out(2,2,message3); update_select=0; } TRISA = 0b00110100; // RA0 O/P, RA2 I/P TestPin1 = 1; test1 = TestPin3 ; // Read I/P at RA2 TestPin1 = 0; TRISA = 0b00110001; // RA0 I/P, RA2 O/P TestPin3 = 1; test2 = TestPin1; TestPin3 = 0; if((test1==1) && (test2 ==1)){ Lcd_Out(2,10,message4); } if((test1==1) && (test2 ==0)){ Lcd_Out(2,10,message6); } if((test1==0) && (test2 ==1)){ Lcd_Out(2,10,message6); } if((test1==0) && (test2 ==0)){ Lcd_Out(2,10,message5); } } // End if(select == 0) if(select && !detail_select){ // Transistor Tester if(update_select){ Lcd_Cmd(_LCD_CLEAR); Lcd_Out(1,2,message2); update_select = 0; } // Test for BE and BC Junctions of NPN TRISA = 0b00110101; // RA0, RA2 I/P, RA1 O/P TestPin2 = 1; BE_Junc = TestPin1 ; // Read I/P at RA0 BC_Junc = TestPin3; // Read I/P at RA2 TestPin2 = 0; // Test for EB and CB Junctions of PNP TRISA = 0b00110110; // RA0 O/P, RA1/RA2 I/P TestPin1 = 1; EB_Junc = TestPin2; TestPin1 = 0; TRISA = 0b00110011; // RA0 O/P, RA1/RA2 I/P TestPin3 = 1; CB_Junc = TestPin2; TestPin3 = 0; if(BE_Junc && BC_Junc && !EB_Junc && !CB_Junc){ Lcd_Out(2,2,message3); Lcd_Out(2,10,message6); type = “NPN”; BE_info = “Good “; BC_info = “Good “; } else if(!BE_Junc && !BC_Junc && EB_Junc && CB_Junc){ Lcd_Out(2,2,message3); Lcd_Out(2,10,message6); type = “PNP”; BE_info = “Good “; BC_info = “Good “; } else { Lcd_Out(2,2,message3); Lcd_Out(2,10,”Bad “); type = “Bad”; } } if(select && !Detail){ debounce_delay(); switch (detail_select) { case 0 : detail_select=1; break; case 1 : detail_select=0; break; } //case end update_select = 1; } if(detail_select && update_select){ // Test for BE Junction open if(!BE_Junc && !EB_Junc){ BE_info = “Open “; } // Test for BC Junction open if(!BC_Junc && !CB_Junc){ BC_info = “Open “; } // Test for BE Junction short if(BE_Junc && EB_Junc){ BE_info = “Short”; } // Test for BC Junction short if(BC_Junc && CB_Junc){ BC_info = “Short”; } Lcd_Cmd(_LCD_CLEAR); Lcd_Out(1,1,”Type:”); Lcd_Out(1,7,type); Lcd_Out(2,1,”BE:”); Lcd_Out(2,4,BE_info); Lcd_Out(2,9,”BC:”); Lcd_Out(2,12,BC_info); update_select = 0; } // End if (detail_select) } while(1); }

Оригинал статьи на английском языке (перевод Колтыков А.В. для сайта cxem.net)


Категория: Измерительная техника
Метки:

Написать коментарий

*
= 4 + 2

Добавить изображение

Последние статьи